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簡要描述:光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù),包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等??蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。
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價格區(qū)間 | 10萬-30萬 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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名 稱:光學(xué)鍍膜橢偏儀
型 號:ME-L
品 牌:頤光
光學(xué)鍍膜橢偏儀在手機蓋板中的應(yīng)用
光學(xué)鍍膜就好比女士化妝,不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮,也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用,所以在如今這個“看臉”的時代,蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的,目前常見的包括AR、AF、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。
光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點分析
1、AR膜透過率不合格NG
2、顏色膜調(diào)色困難,周期長。
3、量產(chǎn)過程產(chǎn)品不穩(wěn)定,存在色差。
橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用
造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于:
A;仿真設(shè)計調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實際材料折射率不符。
B;鍍膜設(shè)備實際鍍層厚度與膜系設(shè)計要求不符。
C;量產(chǎn)過程對鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評估手段。
橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子,為蓋板量產(chǎn)保駕護航。
1:膜系設(shè)計——膜層實際折射率的標(biāo)定
★鍍膜實際折射率的影響因素:供氧量、真空度、電子槍光斑大小、溫度等
★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度,因此通過鍍膜機在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜,可直接準(zhǔn)確測量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù)。
★通過調(diào)整鍍膜機參數(shù),以橢偏儀測量獲得的單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋,將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài)。此時對應(yīng)的鍍膜機參數(shù)即為厚度鍍膜時所需設(shè)定的終參數(shù)。
2:工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正
★通常來說,鍍膜機通過晶振來控制鍍膜厚度,而實際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足,導(dǎo)致實際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差。在鍍膜機中,可通過工具因子(Tooling值)控制鍍膜機的蒸鍍速率,進而可對實際鍍膜厚度進行調(diào)控。
★橢偏儀可以準(zhǔn)確測量獲得薄膜的厚度,因此可用于校正鍍膜機的工具因子(Tooling值),使實際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*。
3;量產(chǎn)監(jiān)控——實時監(jiān)測各項鍍膜指標(biāo)
★鍍膜膜厚是否在設(shè)計范圍。
★材料折射率有無顯著波動。
★透過率是否滿足工藝需求。
★色度值是否滿足工藝需求。
★反射率是否滿足工藝需求。
光學(xué)鍍膜橢偏儀售后服務(wù):
1、廠家貨源正品
貨源有保障,可以根據(jù)客戶不同測試需求,提供不同測試方案。
2、關(guān)于售后
4小時電話響應(yīng),24小時內(nèi)安排上門服務(wù)。終生維護。
3、關(guān)于發(fā)貨
到款4-5天內(nèi)到貨,江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨。
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