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射線熒光光譜儀又稱熒光分光光度計(jì)，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光譜儀的檢測(cè)，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。
紫外分光光度計(jì)應(yīng)用行業(yè) 在水和廢水監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用，對(duì)于一個(gè)水系的監(jiān)測(cè)分析和綜合評(píng)價(jià)，一般包括水相（溶液本身）、固相（懸浮物、底質(zhì)）、生物相（水生生物）。在水質(zhì)的常規(guī)監(jiān)測(cè)中，紫外可見分光光度法占有較大的比重。
分光光度計(jì)的使用：采用了一個(gè)可以產(chǎn)生多個(gè)波長(zhǎng)的光源，通過系列分光裝置從而產(chǎn)生特定波長(zhǎng)的光源，光線透過測(cè)試樣品后，部分光線被吸收，計(jì)算樣品的吸光值。
能量色散光譜儀：用一定頻率的紅外光聚焦照射被分析的樣品時(shí)，文庫如果分子中某個(gè)基團(tuán)的振動(dòng)頻率與照射紅外線頻率相同便會(huì)產(chǎn)生共振，從而吸收一定頻率的紅外線，把分子吸收紅外線的這種情況用儀器記錄下來，便能得到全面反映樣品成分特征的光譜，進(jìn)而推測(cè)化合物的類型和結(jié)構(gòu)。
X射線熒光光譜儀應(yīng)用（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
EDX-A80型能量色散X熒光光譜儀介紹（簡(jiǎn)稱EDXRF）是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損樣品、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)廣泛應(yīng)用。
原子吸收分光光度計(jì); 原子和分子中的電子總是處于一種運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，每種狀態(tài)都具有一定的能量，屬于一定的能級(jí)
傅里葉紅外光譜儀應(yīng)用：是有機(jī)化合物分析中廣泛應(yīng)用的方法。由于紅外光譜的高度專屬性，在高分子材料檢驗(yàn)中，紅外光譜法常與其它理化方法聯(lián)合使用，作為高分子材料行業(yè)的重要的鑒別方法。
